三維自動(dòng)光學(xué)檢測設(shè)備GR-AOI-510DL(雙軌)

◆ PSLM PMP 可編程相位輪廓調(diào)制測量技術(shù)

◆ 四/八向投射同步結(jié)構(gòu)光技術(shù)

◆ 測量項(xiàng)目：缺件、偏移、旋轉(zhuǎn)、三維極性、反件、OCV、翹立、側(cè)立、立碑、焊接不良等

◆ 焊點(diǎn)檢查項(xiàng)目：焊錫拉尖、焊錫量百分比、多錫、少錫、橋接、堵孔、爬錫、焊盤污染等

◆ 最小檢測元件：01005（英）

◆ X-Y精度：10um

◆ 高度重復(fù)性精度：<1um(4sigma)

◆ 檢測面積：450x310mm(雙軌）

◆ 遠(yuǎn)心鏡頭配合超高幀數(shù)高精度工業(yè)相機(jī)

◆ 檢測速度：0.45秒/FOV

◆ Mark點(diǎn)識(shí)別：0.5秒/個(gè)

◆ 最大檢測高度：10mm

◆ 可過板上器件高度：50mm

◆ 彎曲PCB最大測量高度：±5mm

◆ 操作系統(tǒng)：Windows 10 Professional (64 bit)

◆ 五分鐘編程，一鍵式操作

◆ SPC過程工藝控制